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    光學干涉儀有哪些組成部分?

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    多個波疊加時,每一波相位波加強的部分中相互匹配,其中,通過利用破壞性在相位反轉的部分,波長(頻率)和測量相位差的技術。利用此原理的設備主要稱為干涉儀。

    光學干涉儀是一種利用光的干涉現象來測量長度、厚度、折射率等物理量的儀器。它的工作原理是利用光的波動性和干涉現象,通過比較光程差來測量被測量體的長度或厚度等物理量。

    光學干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調節器和檢測器。在工作時,光源發出的光線經過分束器分成兩束光線,經反射鏡反射后再匯合。當兩束光線匯合后,由于光的波動性,它們會產生干涉現象,形成干涉圖樣,通過觀察干涉條紋的形態和移動情況,可以計算出被測物體的長度或厚度等物理量。

    光學干涉儀的應用非常廣泛,比如在工業生產中用于測量機械零件的長度和厚度、在材料研究中用于測量材料的折射率和厚度、在生物醫學中用于測量細胞和組織的長度和厚度等等。
     

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