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    一起來了解光學干涉儀的原理

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    光學干涉儀是一種利用光的干涉現象來測量長度、厚度、折射率等物理量的儀器,測量原理是利用光的波動性和干涉現象,通過測量光程差的變化來測量物體的形狀和表面特征。光程差是指兩束光在傳播過程中所經過的光程差異,它是由物體表面形狀和折射率的變化所引起的。當兩束光相遇時,它們會產生干涉現象,干涉圖樣的形狀和大小與光程差有關,通過測量干涉圖樣的變化,可以得到物體表面的形狀和特征。
     
    光學干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調節器和檢測器。在工作時,光源發出的光線經過分束器分成兩束光線,經反射鏡反射后再匯合。當兩束光線匯合后,由于光的波動性,它們會產生干涉現象,形成干涉圖樣,通過觀察干涉條紋的形態和移動情況,可以計算出被測物體的長度或厚度等物理量。
     
    光學干涉儀的應用非常廣泛,比如在工業生產中用于測量機械零件的長度和厚度、在材料研究中用于測量材料的折射率和厚度、在生物醫學中用于測量細胞和組織的長度和厚度等等。

    馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化,可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。

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